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标准摘要 :

本文件描述了元器件位移损伤的试验方法。 本文件适用于光电集成电路和分立器件,如电荷耦合器件(CCD)、光电耦合器、图像敏感器(APS)、光敏管等,用质子、中子进行位移损伤辐照试验。其他元器件的位移损伤辐照试验参照进行。

发布单位 :

国家市场监督管理总局、国家标准化管理委员会。

归口单位 :

全国半导体器件标准化技术委员会。

起草单位 :

中国空间技术研究院、中国工程物理研究院核物理与化学研究所、西北核技术研究院、中国电子科技集团公司第四十四研究所、中国科学院新疆理化技术研究所、扬州大学。

起草人 :

罗磊、于庆奎、唐民、朱恒静、张洪伟、郑春、陈伟、丁李利、汪朝敏、李豫东、文林、薛玉雄。

出处 :

备注 :